6月8‐10日パシフィコ横浜で行われているSSII2022で伊藤、久保田の2名が発表を行いました。
約2年ぶりの現地開催学会発表となりました。
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- 久保田雄斗,栗原徹,西原雄太, “チョクラルスキー法を用いた単結晶Si引上中のボディ部における晶癖線検出法の研究,”SSII, パシフィコ横浜, 6/8-10, 2022.
- 伊藤湧山,栗原徹, “畳み込みオートエンコーダを使用したカット野菜の不良検出,” SSII, パシフィコ横浜, 6/8-10, 2022.
画像関係では国内最大級に参加人数の多い学会で、オンサイト・オンライン併用のポスター発表で大変でしたが、多くの人に興味を持ってもらえ説明に忙しかったです。
いただいたコメントを参考にさらに良い研究に発展させていたければと思います。
さあ、打ち上げるぞ！
自分のやっている研究の説明が至らない部分もあり、なかなかいい発表ができたとは言えないのが悔しいです。
けれども、今後の研究を進めていく上で様々な意見を頂けたので、今回のSSIIで頂いた意見をもとに、より良い結果を生むために頑張ろうと思います！
久保田雄斗
事前の準備不足などもあり、決して満足する発表ではありませんでした。しかし、似たような研究をしている方や、興味を持ってくださった方にいろいろと意見やアドバイスをもらえたのでそれをもとにより良い結果を出していけるように頑張っていきたいです！
伊藤湧山
