第26回パターン計測シンポジウム

第26回パターン計測シンポジウム

11月26日(金)に第26回パターン計測シンポジウム@オンラインで発表を行いました。

今年も前年同様オンライン開催となりました。

研究室からは1名が発表を行いました。

・久保田雄斗, 西原雄太, 栗原徹, “チョクラルスキー(CZ)法を用いた単結晶Si引上中のボディ部における晶癖線検出法の基礎的検討,” 第26回パタ―ン計測シンポジウム, online, 11/27, 2021.


初めての学会発表ということで、発表までに様々な失敗もありましたが、発表に向けてできる限り伝わりやすくなるように発表練習をしてきました。
そして久保田君がパターン計測研究会 優秀論文賞を受賞することができました!

様々な人の助力があってこそではありますが、初めて自分が試行錯誤した研究の発表ということで、できる限り良い発表をしようと努力した甲斐がありました!とてもうれしかったです!とのことです。今回の発表を踏まえ、さらなる研究の発展へとつなげていきましょう。